統計的タイミング解析
ChronoVA™シリーズ

ChronoVA™シリーズ統計的解析ツールの構成

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ChronoVA™シリーズの統計的解析ツールは、半導体のプロセスばらつきを考慮したLSIのタイミング解析を行うものです。ばらつきをばらつき総合データベース、LC（Library Characterization）、SSTA（Statistical Static Timing Analysis）、CA（Circuit Analysis using Stochastic Analysis Process）、LVA（Layout Variation Analysis）の各ソフトウェアモジュールから構成されています。また、ChronoVA™/LCでキャラクタライズしたスタンダードセルから構成されるクリティカルパスに対し、SPICEによるモンテカルロ解析を高速に行う等に応用できる ChronoVA™/PA（Path Analysis）パッケージを、別に用意しています。

なお、ばらつき統合データベースを生成するため、Anova Suite™ MDC（Measurement Data Calibration）というソフトウェアパッケージも用意しています。これは、大量の測定データを分析、整理し、ばらつきに対してクリティカルなパラメータを抽出、それをもとに基本的なデバイスモデル（SPICEモデル）のパラメータをすべての測定データに矛盾なくフィッティングするプロセスで使用されます。測定データはお客様毎に異なりますし、クリティカルなパラメータを抽出するためのデータマイニングの手法は千差万別と言えます。そこで、このプロセスはアノーバがサービス業務として請け負っており、ファウンドリ等のお客様にはこのサービスの活用をお勧めしています。

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統計的設計ソリューション製品ラインアップ

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アノーバの統計的設計ソリューションは、以下のようなツール群から構成されています。各製品の詳細については、それぞれの製品名をクリックしてください。

製品名		概要
統計データ分析	Anova Suite™	プロセス測定データの整理、分析、およびトランジスタ特性のモデル化
統計的タイミング解析 ChronoVA™シリーズ	ChronoVA™/LVA (Layout Variation Analysis)	システマティックばらつきの影響を遅延時間計算などに反映
	ChronoVA™/LC (Library Characterization)	SSTAで使用するための統計的タイミングライブラリを生成
	ChronoVA™/CA (Variation-Aware Circuit Analysis)	モンテカルロ解析と同等の、SPICEを用いた統計的回路解析
	ChronoVA™/SSTA (Statistic Static Timing Analysis)	ロジック回路の統計的タイミング解析
	ChronoVA™/PA (Variation-Aware Path Analysis)	モンテカルロ解析と同等の、トランジスタレベルのクリティカルパス詳細タイミング解析

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システムレベルの総合タイミング解析

以上説明しましたChronoVA™/SSTA、ChronoVA™/PA、ChronoVA™/CAを最適な応用形態毎に組合せ、伝送路などを含めた総合的なタイミング検証に応用することができます。適用例を下図に示します。

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